Media type: Book Title: Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen : und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen Contributor: Eigler, Hans [Author] imprint: Renningen-Malmsheim: Expert Verl., 2003 Extent: 372 S; graph. Darst; 21 cm Language: German ISBN: 3816921590 RVK notation: ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Keywords: Halbleiterbauelement > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Integrierte Schaltung > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Optoelektronisches Bauelement > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Mikromechanik > Gitterbaufehler > Degradation > Zuverlässigkeit Mikroelektronik > Mikrosystemtechnik > Zuverlässigkeit Origination: Footnote: Literaturverz. S. [323]-354
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4040 E34 Item ID: 31879631 Status: Loanable