Media type: Book Title: Reliability of microtechnology : interconnects, devices and systems Contributor: Liu, Johan [Other] imprint: New York, NY; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2011 Extent: XIII, 204 S.; Ill., graph. Darst; 24 cm Language: English ISBN: 1441957596; 9781441957597 RVK notation: ZN 3750 : Mikrosystemtechnik ZN 4040 : Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente und Geräte Keywords: Mikrosystemtechnik > Zuverlässigkeit Origination: Footnote: Literaturangaben
Departmental Library DrePunct – open access area Shelf-mark: ZN 4040 L783 Item ID: 32894311 Status: Loanable