Media type: Book Title: Metrology and standardization for nanotechnology : protocols and industrial innovations Contributor: Mansfield, Elisabeth [HerausgeberIn]; Kaiser, Debra L. [HerausgeberIn]; Fujita, Daisuke [HerausgeberIn]; Voorde, Marcel H. van de [HerausgeberIn] imprint: Weinheim: Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2017] Published in: Nanotechnology innovation & applications Extent: XXXII, 594 Seiten; Illustrationen, Diagramme Language: English ISBN: 3527340394; 9783527340392 RVK notation: VE 9850 : Allgemeines ZN 3700 : Mikromechanik (hier auch Nanotechnologie) ZQ 3950 : Messtechnik in Anwendungsgebieten Keywords: Nanotechnologie > Nanostrukturiertes Material > Metrologie Origination: Footnote: Literaturangaben