Heisch, Sebastian
[Author]
;
Jünemann, Klaus
[Other];
Meiners, Ulfert
[Other]
Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg,
Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg Department Informations- und Elektrotechnik,
Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg Department Informations- und Elektrotechnik