Media type: E-Book; Text Title: Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays Contributor: Chen, Yongzhang [Author] imprint: KITopen (Karlsruhe Institute of Technologie), 2008-01-16 Language: English Keywords: DATA processing & computer science Origination: Footnote: Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.