Compression de données de test pour architecture de systèmes intégrés basée sur bus ou réseaux et réduction des coûts de test ; Test data compression for integrated systems architecture based on bus or network and test cost reduction
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Media type:
E-Book;
Electronic Thesis;
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Title:
Compression de données de test pour architecture de systèmes intégrés basée sur bus ou réseaux et réduction des coûts de test ; Test data compression for integrated systems architecture based on bus or network and test cost reduction
Footnote:
Diese Datenquelle enthält auch Bestandsnachweise, die nicht zu einem Volltext führen.
Description:
Les circuits intégrés devenant de plus en plus complexes, leur test demande des efforts considérables se répercutant sur le coût de développement et de production de ces composants. De nombreux travaux ont donc porté sur la réduction du coût de ce test en utilisant en particulier les techniques de compression de données de test. Toutefois ces techniques n'adressent que des coeurs numériques dont les concepteurs détiennent la connaissance de toutes les informations structurelles et donc en pratique n'adressent que le test de sous-blocs d'un système complet. Dans cette thèse, nous proposons tout d'abord une nouvelle technique de compression des données de test pour les circuits intégrés compatible avec le paradigme de la conception de systèmes (SoC) à partir de fonctions pré-synthétisées (IPs ou coeurs). Puis, deux méthodes de test des systèmes utilisant la compression sont proposées. La première est relative au test des systèmes SoC utilisant l'architecture de test IEEE 1500 (avec un mécanisme d'accès au test de type bus), la deuxième concerne le test des systèmes pour lesquels la communication interne s'appuie sur des structures de type réseau sur puce (NoC). Ces deux méthodes utilisent conjointement un ordonnancement du test des coeurs du système avec une technique de compression horizontale afin d'augmenter le parallélisme du test des coeurs constituant le système et ce, à coût matériel constant. Les résultats expérimentaux sur des systèmes sur puces de référence montrent des gains de l'ordre de 50% sur le temps de test du système complet. ; While microelectronics systems become more and more complex, test costs have increased in the same way. Last years have seen many works focused on test cost reduction by using test data compression. However these techniques only focus on individual digital circuits whose structural implementation (netlist) is fully known by the designer. Therefore, they are not suitable for the testing of cores of a complete system. The goal of this PhD work was to provide a new solution ...