Media type: E-Book Title: On chemically sensitive atomic scale imaging Contributor: Katnagallu, Shyam Swaroop [Verfasser]; Drautz, Ralf [Gutachter]; Raabe, Dierk [Gutachter] Corporation: Fakultät für Maschinenbau imprint: Bochum: Ruhr-Universität Bochum, 2018 Extent: Online-Ressource Language: English Identifier: Keywords: Data mining ; Field ion microscopy ; Field ion microscopes ; Evaporation ; Atoms ; Feldionenmikroskopie ; Data Mining ; Flugzeitmassenspektrometrie ; Atomsonde ; Versetzung (Kristallographie) Origination: University thesis: Dissertation, Bochum, Ruhr-Universität Bochum, 2018 Footnote: Access State: Open Access