Media type: E-Book Title: Alterung von Leistungshalbleitermodulen im Temperatur-Feuchte-Spannungs-Test Other titles: Degradation of semiconductor modules in the High Humidity High Temperature Reverse Bias (HA TRB) Test Contributor: Zorn, Christian [Author]; Kaminski, Nando [Degree supervisor]; Kaminski, Nando [Other]; Scheuermann, Uwe [Other] Published: Bremen: Staats- und Universitätsbibliothek Bremen, 2019 Extent: Online-Ressource Language: German Identifier: Keywords: Feuchtigkeit ; Leistungshalbleiter ; Elektrische Spannung ; Alterung ; Warentest ; Abbruchreaktion ; reliability, semiconductor device, accelerated testing, H3TRB, IGBT module, corrosion, humidity degradation, bias influence, metallisation, dendrites Origination: University thesis: Dissertation, Bremen, Universität Bremen, 2019 Footnote: Access State: Open Access