Media type: E-Book Title: Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen Contributor: Kloft, Stephan [Author]; Lackinger, Markus [Degree supervisor] Published: München: Universitätsbibliothek der Ludwig-Maximilians-Universität, 2020 Extent: Online-Ressource Language: German Identifier: Keywords: Nanostruktur ; Rastersondenmikroskop ; Mikroskop ; Ultrahochvakuum Origination: University thesis: Dissertation, München, Ludwig-Maximilians-Universität, 2020 Footnote: Access State: Open Access