• Media type: E-Book
  • Title: Nanomechanics: Mechanical response analysis of semiconductor GaAs nanowires by using finite element method and x-ray diffraction techniques
  • Other titles: Nanomechanik: Mechanische Response-Analyse von Halbleiter-GaAs-Nanodrähten mit der Finite-Elemente-Methode und Röntgendiffraktionstechnik
  • Contributor: Anjum, Taseer [Verfasser]; Gutt, Christian [Gutachter]
  • imprint: Siegen: Universitätsbibliothek der Universität Siegen, 2021
  • Extent: Online-Ressource
  • Language: English
  • Identifier:
  • Keywords: Diffraction ; Nanowires ; Finite element method ; Nanodraht ; Semiconductor nanowires ; Manomechanical properties ; X-ray diffraction ; Gorsky effect ; Three point bending test
  • Origination:
  • University thesis: Dissertation, Siegen, Universität Siegen, 2021
  • Footnote:
  • Access State: Open Access