Media type: E-Book Title: Untersuchung der THz-Emission von Silizium in Abhängigkeit von Grenzflächen- und Kristalldefekten Contributor: Blumröder, Ulrike [Author]; Nolte, Stefan [Other]; Schmidl, Frank [Other]; Beigang, René [Other] Published: Jena: Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2021 Extent: Online-Ressource Language: German Identifier: Keywords: Emission ; Silicium ; Halbleiter ; Gitterbaufehler Origination: University thesis: Dissertation, Jena, Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2021 Footnote: Access State: Open Access