DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
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Media type:
Standard
Title:
DIN EN 61967-2
:
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 2: Messung der abgestrahlten Aussendungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 61967-2:2005); Deutsche Fassung EN 61967-2:2005
Other titles:
Früher unter dem Titel: DIN IEC 61967-2 (2003-12)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 61967-2:2005); German version EN 61967-2:2005
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 2: Mesure des émissions rayonnées - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande (CEI 61967-2:2005); Version allemande EN 61967-2:2005
Footnote:
Internationale Übereinstimmung mit: EN 61967-2 (2005-10) - identisch; IEC 61967-2 (2005-09) - identisch
Description:
Dieses Prüfverfahren legt eine Methode zur Messung der elektromagnetischen Strahlung einer integrierten Schaltung (IC) fest. Dabei wird der zu untersuchende IC wird auf einer IC-Messadapter-Leiterkarte montiert, die in einer passenden Wandöffnung in der Ober- oder Unterseite einer transversalen elektromagnetischen (TEM) Zelle oder einer Breitband-Gigahertz-TEM- (GTEM) Zelle befestigt wird. Die Messadapter-Leiterkarte wird Bestandteil der Zellenwand.