DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
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Media type:
Standard
Title:
DIN EN 62435-2*VDE 0884-135-2
:
Elektronische Bauteile - Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente - Teil 2: Schädigungsmechanismen (IEC 62435-2:2017); Deutsche Fassung EN 62435-2:2017
Other titles:
Früher unter dem Titel: DIN EN 62435-2 (2013-10)
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms (IEC 62435-2:2017); German version EN 62435-2:2017
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 2: Mécanismes de détérioration (IEC 62435-2:2017); Version allemande EN 62435-2:2017
Footnote:
Internationale Übereinstimmung mit: EN 62435-2 (2017-04), IDT*IEC 62435-2 (2017-01), IDT
Description:
Dieser Teil von DIN EN 62435 (VDE 0884-135) behandelt Schädigungsmechanismen und betrifft die Art und Weise, wie Bauteile, abhängig von den verwendeten Lagerungsbedingungen, über die Zeit abbauen.