DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
DIN EN 62433-6*VDE 0847-33-6
: EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
- [2017-11-00]
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Media type:
Standard
Title:
DIN EN 62433-6*VDE 0847-33-6
:
EMV-IC-Modellierung - Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
Other titles:
EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for Pulse immunity behavioural simulation - Conducted Pulse Immunity (ICIM-CPI) (IEC 47A/1019/CD:2017)
Footnote:
Internationale Übereinstimmung mit: IEC 47A/1019/CD (2017-05), IDT
Description:
Dieser Teil der Normenreihe DIN EN 62433 (VDE 0847-33) legt einen Ablauf für die Ableitung eines Makromodells fest, mit dem die Simulation der Störfestigkeit gegen vorübergehende leitungsgeführte Störungen einer integrierten Schaltung (IC) gegenüber Impulsen, wie etwa die Entladung statischer Elektrizität (ESD) und schnelle transiente elektrische Störgröße (EFT), möglich ist.