DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE,
German Commission for Electrical, Electronic and Information Technologies of DIN and VDE,
DIN Deutsches Institut für Normung e. V.,
DIN German Institute for Standardization
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Media type:
Standard
Title:
DIN EN IEC 60749-5
:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2770/CDV:2022); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-5:2022
Other titles:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2770/CDV:2022); German and English version prEN IEC 60749-5:2022
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation (IEC 47/2770/CDV:2022); Version allemande et anglaise prEN IEC 60749-5:2022
Description:
Dieser Teil der IEC 60749 sieht einen stationären Temperatur- und Feuchtigkeits- Lebensdauertest vor, um die Zuverlässigkeit von nicht-hermetisch verpackten Halbleiterbauelementen in feuchten Umgebungen zu bewerten.