Zhang, Y.;
Abe, K.;
Haga, Y.;
Hayato, Y.;
Ikeda, M.;
Iyogi, K.;
Kameda, J.;
Kishimoto, Y.;
Miura, M.;
Moriyama, S.;
Nakahata, M.;
Nakajima, T.;
Nakano, Y.;
Nakayama, S.;
Orii, A.;
Sekiya, H.;
Shiozawa, M.;
Takeda, A.;
Tanaka, H.;
Tomura, T.;
Wendell, R. A.;
Irvine, T.;
Kajita, T.;
Kametani, I.;
[...]