Description:
<jats:title>Zusammenfassung</jats:title>
<jats:p>Es wird eine Methode für die Generierung von Spezifikationsmodellen für den modellbasierten Test von mechatronischen Systemen vorgestellt. Diese wird mit Methoden der Testgenerierung sowie -priorisierung verknüpft, um priorisierte Testfälle zu erzeugen, die für den Test mechatronischer Systeme auf Komponenten- oder Systemebene eingesetzt werden können. Ein modular aufgebauter Testadapter ermöglicht die Testausführung für verschiedene Protokolle. Das Ergebnis ist ein effizienter Testprozess, bei dem der Aufwand für die Erstellung erforderlicher Modelle sowie für die Testdurchführung reduziert werden kann. Anhand eines Beispiels aus der industriellen Automation wird die Anwendung der Methode vorgestellt und evaluiert.</jats:p>