Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen - [1. Aufl]

Literatur-
verwaltung

Direktlink

Zur
Merkliste

Lösche von
Merkliste

Per Email teilen

Auf Twitter teilen

Auf Facebook teilen

Per Whatsapp teilen

Schließen

Merkliste

Medientyp: Buch
Titel: Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen
Beteiligte: Beck, Friedrich [Verfasser:in]
Erschienen: Weinheim; Basel [u.a.]: VCH, 1988
Ausgabe: 1. Aufl
Umfang: XII, 134 S; zahlr. Ill
Sprache: Deutsch
ISBN: 3527268790
RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente
ZN 4900 : Allgemeines
Schlagwörter: Integrierte Schaltung > Fehleranalyse > Präparation
Entstehung:
Anmerkungen: Literaturangaben

0 Exemplar Exemplare

davon 0 sofort verfügbar

davon 0 bestellbar

davon 0 nicht verfügbar

(0)

Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung

Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung

Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.