> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch; Konferenzbericht Titel: Defects and properties of semiconductors : defect engineering Beteiligte: Chikawa, Junichi [Hrsg.]; Sumino, K. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wada, K. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Körperschaft: Japan, Kagaku Gijutsuchō Veranstaltung: Symposium on Defects and Qualities of Semiconductors Erschienen: Tokyo [u.a.]: KTK Scientific Publ. [u.a.], 1987 Erschienen in: Advances in solid state technology ; 3 Umfang: VI, 261 S; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 9027723524 Schlagwörter: Halbleiter > Gitterbaufehler Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben Weitere Bestandsnachweise 0 : Advances in solid state technology
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 0988 00557 001 Barcode: 30887637 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung