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Medientyp: Buch; Konferenzbericht Titel: Physical measurement and analysis of thin films : [selected papers from the 1967 Eastern Analytical Symposium] Beteiligte: Murt, Edward M. [Hrsg.] Veranstaltung: Eastern Analytical Symposium Erschienen: New York: Plenum Pr., 1969 Erschienen in: Progress in analytical chemistry ; 2 Umfang: 194 S. Sprache: Englisch RVK-Notation: UP 7500 : Allgemeines Schlagwörter: Thin films Congresses ; Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Progress in analytical chemistry
Zentralbibliothek – Außenmagazin Signatur: 69 8 02173 000 01 0 1 Barcode: 11587980N Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 4 - 7 Tage nach Bestellung