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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Verfahren zur Testmustererzeugung für statische CMOS-Schaltnetze Beteiligte: Schäfer, Manfred [VerfasserIn] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verl., 1989 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 38 Umfang: VII, 253 S.; graph. Darst Sprache: Deutsch Schlagwörter: CMOS-Schaltung > Testmustergenerierung Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1988 Anmerkungen: Als Ms. gedr Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschritt-Berichte VDI / 21
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 20 8 01353 038 01 0 1 Barcode: 10202888 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden