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Medientyp: Buch Titel: Defect and fault tolerance in VLSI systems 2, Held October 22 - 24, 1989, in Tampa, Florida / ed. by C. H. Stapper .. Beteiligte: Stapper, Charles H. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Veranstaltung: International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Erschienen: New York: Plenum Pr., 1990 Erschienen in: Defect and fault tolerance in VLSI systems ; 2 Umfang: XIII, 316 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0306435314 RVK-Notation: ZN 4950 : Schaltungen der Grossintegration (LSI) Entstehung: Anmerkungen:
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 93 8 05344 001 Barcode: 30527705 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung