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Medientyp: Buch; Konferenzbericht Titel: Defects in Silicon : proceedings of the Symposium on Defects in Silicon Beteiligte: Bullis, W. Murray [Hrsg.] Erschienen: Pennington, NJ: Electrochemical Society, 1983 Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 83,9 Umfang: X, 648 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch RVK-Notation: VG 8008 : Kongresse, Tagungsberichte, Fortbildungslehrgänge, Symposien Schlagwörter: Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Proceedings volume