> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Buch Titel: Noncontact atomic force microscopy [1] Erschienen: Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 2002 Erschienen in: Noncontact atomic force microscopy ; [1] Nanoscience and technology Physics and astronomy online library Umfang: XVIII, 439 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3540431179 RVK-Notation: UH 6320 : Rastersondenmikroskopie allgemein Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: