Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp:
Buch;
Hochschulschrift
Titel:
FEM für die Mikroelektronik
:
Erfordernis, Theorie und Anwendung der finiten Element Methode bei der Belastungs-, Schwachstellen- und Ausfallanalyse mikroelektronischer Aufbauten