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Medientyp: Buch Titel: Multiple-beam interferometry of surfaces and films Beteiligte: Tolansky, Samuel [VerfasserIn] Erschienen: Oxford: Clarendon Pr., 1949 Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials Ausgabe: Repr. Umfang: VIII, 187 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch RVK-Notation: UH 5400 : Interferenz, optische Filter, Interferometrie allg., Fourieroptik, Fourier-Spektroskopie, Polarisation Schlagwörter: Interferometrie > Dünne Schicht Entstehung: Anmerkungen:
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 0593 01340 001 Barcode: 32677355 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.