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Medientyp: Buch Titel: Analiza topografii układów scalonych VLSI pod kątem ich produkowalności Beteiligte: Pleskacz, Witold A. [VerfasserIn] Erschienen: Warszawa: Oficyna Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 2009 Erschienen in: Politechnika Warszawska: Prace naukowe / Elektronika ; 172 Umfang: 119 S.; graph. Darst Sprache: Polnisch RVK-Notation: ZN 4110 : Entwurfsoptimierung (Entwurfszentrierung; Toleranzoptimierung...) Entstehung: Anmerkungen: Engl. Zsfassung u.d.T.: Topography analysis of VLSI integrated circuits for manufacturability Weitere Bestandsnachweise 0 : Prace naukowe / Elektronika
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2010 8 008092 Barcode: 31916799 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden