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Medientyp:
Buch;
Sonderdruck
Titel:
Ein neues Verfahren zur Defekterkennung in elektronischen Baugruppen
Paralleltitel:
A new method for recognition of defects in electronic devices
Enthält:
Erkennung latenter Defekte in elektronischen Schaltungen durch eine Phasenrauschmessung
/ von Horst Röder
Ein Verfaren zur Analyse stochastischer Pulsphasensignale und seine Anwendung für die Qualitätsuntersuchung an elektronischen Bauteilen und Schaltungen
/ K. Hoffmann u. H. Röder