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Crouch, Alfred L. [VerfasserIn]

Design-for-test for digital IC's and embedded core systems

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Medientyp: Buch
Titel: Design-for-test for digital IC's and embedded core systems
Beteiligte: Crouch, Alfred L. [VerfasserIn]
Erschienen: Upper Saddle River, NJ [u.a.]: Prentice Hall PTR, 1999
Umfang: XXVII, 347 S; Ill., graph. Darst; 23 cm; 1 CD-ROM (12 cm)
Sprache: Englisch
ISBN: 0130848271
RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente
Schlagwörter: Schaltungsentwurf > Integrierte Schaltung > Eingebettetes System
Digitale integrierte Schaltung > Schaltungsentwurf
Elektronische Schaltung > Fehlererkennung
Entstehung:
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Bereichsbibliothek DrePunct – Ausgabe über Ausleihtheke

Signatur: 2000 8 010788 001 cd1
Barcode: 10087303

Status: Ausleihbar

Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand

Signatur: ZN 4030 C952
Barcode: 10087304

Fällig am: 31.05.2024

Status: Ausgeliehen, Vormerken möglich

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Bereichsbibliothek DrePunct

Signatur: ZN 4030 C952
Barcode: 33722175

Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Hochparallele VLSI-Systeme Neuromikroelektronik erfragen.