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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: An integrated approach to utilize designer's debug capacity in system-on-a-chip designs Beteiligte: Rogin, Frank [VerfasserIn] Erschienen: 2009 Umfang: VIII, 142 S.; graph. Darst; 21 cm Sprache: Englisch RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Bremen, Univ., Diss., 2009 Anmerkungen: