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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Yield simulation for integrated circuits Beteiligte: Walker, Duncan M. [Verfasser:in] Erschienen: Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publishers, 1987 Erschienen in: Kluwer international series in engineering and computer science ; 33 Umfang: X, 209 S.; Ill Sprache: Englisch ISBN: 0898382440 RVK-Notation: ST 190 : Schaltungskreistechnik (techn.-physik.), Integrierte Schaltung, spez. Schaltkreise, VLSI, TTL, ECL etc. ZN 4900 : Allgemeines Schlagwörter: VLSI > Mathematisches Modell VLSI > Simulation Entstehung: Anmerkungen: Bibliography: p189-206. - Includes index Weitere Bestandsnachweise 0 : Kluwer international series in engineering and computer science
Bereichsbibliothek DrePunct Signatur: 1999 8 028323 001 Barcode: 10085852 Status: Verfügbarkeit bitte in Prof Elektronische Bauelemente erfragen.