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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Winkelaufgelöste XPS: Optimierung der mathematischen Modellierung und deren experimentelle Überprüfung Beteiligte: Kozłowska, Magdalena [VerfasserIn] Erschienen: 2005 Umfang: Online-Ressource Sprache: Deutsch Identifikator: RVK-Notation: UP 9330 : XPS (X-ray-Fotoelectron-Spectroscopy) einschl. ESCA (Electron-Spectroscopy for Chemical Analysis) UPS (Ultraviolett-Fotoelectron-Spectroscopy) Schlagwörter: Dünne Schicht ; Mathematisches Modell ; Röntgen-Photoelektronenspektroskopie ; Schichtgitter ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Dresden, Techn. Univ., Diss., 2005 Anmerkungen: Information zum Bestand: Elektronischer Volltext - Zugang über WWW Zugangsstatus: Freier Zugang Rechte-/Nutzungshinweise: Urheberrechtsschutz