Burger, Wilfried
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Lassmann, Kurt
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Holm, Claus
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft];
Wagner, Peter
[Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
Shallow traps correlated with deep impurities in silicon as obtained by phonon induced conductance
Hersteller der Reproduktion:
Stuttgart: Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart, 2009
Entstehung:
Anmerkungen:
Aus: 18th International Conference on the Physics of Semiconductors, Stockholm, Sweden August 11 - 15, 1986 ; Bd. 2. - Singapore, 1987, S. 851 - 854