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Medientyp: Buch Titel: Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie Beteiligte: Im, Sung-Woo [VerfasserIn] Erschienen: Düsseldorf: VDI-Verl., 1990 Erschienen in: Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / 5 ; 201 Ausgabe: Als Ms. gedr. Umfang: XI, 123 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Deutsch ISBN: 3181401056 Schlagwörter: Mikroriss > Dynamische Belastung > Laserinterferometrie Entstehung: Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Fortschrittberichte VDI / 5