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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Instrumentelle Fundamentalparameter und ausgewählte Anwendungen der Mikrofokus-Röntgenfluoreszenzanalyse am Rasterelektronenmikroskop Beteiligte: Rackwitz, Vanessa [VerfasserIn] Erschienen: Berlin: Bundesanst. für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2011 Erschienen in: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung: BAM-Dissertationsreihe ; 81 Umfang: Online-Ressource Sprache: Deutsch ISBN: 9783981463446 RVK-Notation: UM 2280 : Röntgenspektren, Röntgenstrahlung allgemein Röntgenographie Fluoreszenz s. UH 5870 Phosphoreszenz s. UH 5860 Löschprozesse s. UH 5870 Schlagwörter: Röntgenfluoreszenzspektroskopie > Rasterelektronenmikroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Zugl.: Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2012 Anmerkungen: Acrobat reader Zugangsstatus: Freier Zugang