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Faust, Thomas [VerfasserIn]; Rieger, Johannes [VerfasserIn]; Seitner, Maximilian J. [VerfasserIn]; Kotthaus, Jörg Peter [VerfasserIn]; Weig, Eva [VerfasserIn]

Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators
  • Beteiligte: Faust, Thomas [VerfasserIn]; Rieger, Johannes [VerfasserIn]; Seitner, Maximilian J. [VerfasserIn]; Kotthaus, Jörg Peter [VerfasserIn]; Weig, Eva [VerfasserIn]
  • Erschienen: Konstanz: Bibliothek der Universität Konstanz, 2014
  • Umfang: 1 Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • Identifikator:
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Aus: Physical Review B ; 89 (2014), 10. - 100102(R). - ISSN 1098-0121. - eISSN 1095-3795
  • Zugangsstatus: Freier Zugang