DE EN
SLUB – Wir führen Wissen
  • Zur Homepage
DE
Deutsch Englisch
Skip to Content
  • Hilfe zum Katalog

Alles

Nur in Feld suchen:

  • Alles
  • Person/Institution
  • Titel
  • Schlagwort/Stichwort
  • Barcode
  • ISBN/ISSN/ISMN/DOI
  • RVK-Notation
  • Signatur
  • Verlag/Ort
  • Serie/Reihe
  • Provenienz

Zuletzt gesuchte Begriffe:

  • Hilfe zum Katalog
  • > Merkliste
  • > Mein Konto
  • > Schreiben Sie uns!

> Detailanzeige

Si, Shuhao [Verfasser:in]; Weigel, Christoph [Verfasser:in]; Messerschmidt, Martin [Verfasser:in]; Thesen, Manuel W. [Verfasser:in]; Sinzinger, Stefan [Verfasser:in]; Strehle, Steffen [Verfasser:in]

A study of imprint and etching behavior on fused silica of a new tailored resist mr-NIL213FC for soft UV-NIL

Teilen

Literatur-
verwaltung

Direktlink

Zur
Merkliste

Lösche von
Merkliste

Per Email teilen
Auf Twitter teilen
Auf Facebook teilen
Per Whatsapp teilen
Als RIS exportieren Als BibTeX exportieren Als EndNote exportieren

Schließen

> Merkliste



Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: A study of imprint and etching behavior on fused silica of a new tailored resist mr-NIL213FC for soft UV-NIL
  • Beteiligte: Si, Shuhao [Verfasser:in]; Weigel, Christoph [Verfasser:in]; Messerschmidt, Martin [Verfasser:in]; Thesen, Manuel W. [Verfasser:in]; Sinzinger, Stefan [Verfasser:in]; Strehle, Steffen [Verfasser:in]
  • Erschienen: 2020
  • Erschienen in: Micro and nano engineering ; 6(2020) vom: Apr., Artikel-ID 100047, Seite 1-7
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1016/j.mne.2020.100047
  • Identifikator:
  • Entstehung:
  • Anmerkungen:
  • Zugangsstatus: Freier Zugang
  • Rechte-/Nutzungshinweise: Namensnennung (CC BY)
  • Open Access

> Zugang

... zum Aufsatz via DOI (frei zugänglich)

Nach oben scrollen
  • Impressum
  • Datenschutzerklärung
  • Kontakt
  • TU Dresden
  • Anfahrt
Facebook YouTube