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Geml, Fabian [Verfasser:in]; Engelhardt, Josh [Verfasser:in]; Steffens, Jonathan [Verfasser:in]; Reinalter, Luis-Frieder [Verfasser:in]; Micard, Gabriel [Verfasser:in]; Hahn, Giso [Verfasser:in]

GD-OES depth profiling and calibration of B doped dielectric layers

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  • Medientyp: E-Book
  • Titel: GD-OES depth profiling and calibration of B doped dielectric layers
  • Beteiligte: Geml, Fabian [Verfasser:in]; Engelhardt, Josh [Verfasser:in]; Steffens, Jonathan [Verfasser:in]; Reinalter, Luis-Frieder [Verfasser:in]; Micard, Gabriel [Verfasser:in]; Hahn, Giso [Verfasser:in]
  • Erschienen: Konstanz: KOPS Universität Konstanz, 2019
  • Umfang: 1 Online-Ressource
  • Sprache: Englisch
  • Identifikator:
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: In: SiliconPV 2019, the 9th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics / Poortmans, Jef et al. (Hrsg.). - Melville, New York : AIP Publishing, 2019. - (AIP Conference Proceedings ; 2147,1). - 020003. - ISSN 0094-243X. - eISSN 1551-7616. - ISBN 978-0-7354-1892-9
  • Zugangsstatus: Freier Zugang