Erschienen:
Hannover: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2020 Hannover: Technische Informationsbibliothek (TIB), 2020
Umfang:
1 Online-Ressource
Sprache:
Deutsch
DOI:
10.15488/10014
Identifikator:
Entstehung:
Anmerkungen:
In: Pusch, Thorsten; Suhrke, Michael; Jörres, Benjamin: Charakterisierung eines Referenztestaufbaus für die HPEM-Normenentwicklung. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, Köln, 2020, S. 89-96