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Lui, Yiu Lim [Verfasser:in]; Phillips, Peter C. B. [Verfasser:in]; Yu, Jun [Verfasser:in]

Robust testing for explosive behavior with strongly dependent errors

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Medientyp: E-Book
Titel: Robust testing for explosive behavior with strongly dependent errors
Beteiligte: Lui, Yiu Lim [Verfasser:in]; Phillips, Peter C. B. [Verfasser:in]; Yu, Jun [Verfasser:in]
Erschienen: Singapore: Singapore Management University, Oct 2022
Erschienen in: Working paper ; 2022,11
Umfang: 1 Online-Ressource (circa 69 Seiten); Illustrationen
Sprache: Englisch
Schlagwörter: HAR test ; Long memory ; Explosiveness ; Unit root test ; S&P 500 ; Graue Literatur
Entstehung:
Anmerkungen:
Zugangsstatus: Freier Zugang