Janek, Jürgen
[Mitwirkende:r];
Sann, Joachim
[Mitwirkende:r]
;
Justus-Liebig-Universität Gießen Physikalisch-Chemisches Institut
Methodenplattform "Charakterisierung" - Charakterisierung von Anoden- und Kathoden-Grenzflächen mittels XPS (Röntgen-Photoelektronenspektroskopie) und ToF-SIMS (Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie)
Anmerkungen:
Förderkennzeichen BMBF 03XP0176D
Verbundnummer 01184644
Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden