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Cassano, Luca [HerausgeberIn]; Chakravarty, Sreejit [HerausgeberIn]; Bosio, Alberto [HerausgeberIn] ; IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems 35. 2022 Austin, Tex, Institute of Electrical and Electronics Engineers

35th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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  • Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
  • Titel: 35th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : Austin, Texas (USA), October 19th-21st, 2022
  • Weitere Titel: Abweichender Titel: 2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
  • Beteiligte: Cassano, Luca [HerausgeberIn]; Chakravarty, Sreejit [HerausgeberIn]; Bosio, Alberto [HerausgeberIn]
  • Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers
  • Erschienen: Piscataway, NJ: IEEE, 2022
  • Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1109/DFT56152.2022
  • ISBN: 9781665459389
  • Identifikator:
  • Schlagwörter: VLSI > Fehlertoleranz
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: Literaturangaben