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Medientyp: E-Book; Konferenzbericht Titel: Automated Visual Inspection and Machine Vision V : 28 June 2023, Munich, Germany Beteiligte: Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]; Heizmann, Michael [HerausgeberIn] Körperschaft: SPIE Erschienen: Bellingham, Washington, USA: SPIE, [2023] Erschienen in: SPIE: Proceedings of SPIE ; 12623 Umfang: 1 Online-Ressource; Illustrationen Sprache: Englisch ISBN: 9781510664562 Schlagwörter: Konferenzschrift Entstehung: Anmerkungen: Teilkonferenz von SPIE Optical Metrology 2023 Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge Literaturangaben