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Medientyp: E-Book; Hochschulschrift Titel: Test beam analysis of irradiated stitched passive CMOS strip sensors Beteiligte: Lex, Fabian Simon [VerfasserIn] Erschienen: Freiburg, June 28th, 2023 Umfang: 1 Online-Ressource (130 Seiten); Illustrationen, Diagramme Sprache: Englisch DOI: 10.6094/UNIFR/243332 Identifikator: Schlagwörter: Streifendetektor ; CMOS ; Hochenergiephysik ; Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Masterarbeit, University of Freiburg, 2023 Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang