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Medientyp: Buch Titel: Reliability and degradation of III-V optical devices Beteiligte: Ueda, Osamu [VerfasserIn] Erschienen: Boston [u.a.]: Artech House, 1996 Erschienen in: Artech House optoelectronics library Umfang: XII, 353 S; Ill., graph. Darst; 24 cm Sprache: Englisch ISBN: 0890066523 RVK-Notation: UP 3050 : Optische Eigenschaften von Halbleitern Schlagwörter: Gallium arsenide semiconductors Reliability ; Semiconductors Failures ; Light emitting diodes Reliability ; Crystals Defects ; Semiconductors Optical properties ; Lasers Entstehung: Anmerkungen: Includes bibliographical references and index