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Medientyp: Buch Titel: Testverfahren in der Mikroelektronik : Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen Beteiligte: Daehn, Wilfried [Verfasser:in] Erschienen: Berlin; Heidelberg; New York; Barcelona; Budapest; Hong Kong; London; Mailand; Paris; Santa Clara; Singapur; Tokio: Springer, 1997 Erschienen in: Mikroelektronik Umfang: XI, 219 S; graph. Darst; 24 cm Sprache: Deutsch ISBN: 3540617280 RVK-Notation: ZN 4900 : Allgemeines ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Digitale integrierte Schaltung > Testbarkeit > Fehlererkennung Digitale integrierte Schaltung > Selbsttest > Fehlererkennung Logische Schaltung > Testmuster > Algorithmus Entstehung: Anmerkungen: Literaturverz. S. [209] - 219
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 1997 8 009998 002 Barcode: 10426800 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung