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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Scanning probe microscope with high resolution capacitive transducers Beteiligte: Zhao, Xianbin [Verfasser:in] Körperschaft: Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abteilung Fertigungsmesstechnik Erschienen: Bremerhaven: Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss., 1998 Erschienen in: PTB-Bericht ; 32 Umfang: II, 155 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 3897012073 RVK-Notation: UX 1450 : Maschinenbautechnik, Feinmechanik Schlagwörter: Rastersondenmikroskop > Kapazitiver Sensor > Raumauflösung Rastersondenmikroskopie > Länge > Berührungslose Messung > Kapazitiver Sensor > Nanostruktur Entstehung: Hochschulschrift: Teilw. zugl.: Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 1995 u.d.T.: Zhao, Xianbin: Hochauflösende dreidimensionale Positionierungsbestimmung bei Rastersondenmikroskopen mittels kapazitiver Aufnehmer Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : PTB-Bericht / F
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 1999 4 003443 001 Barcode: 30291966 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.