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Medientyp: Buch Titel: Failure mechanisms in semiconductor devices Beteiligte: Amersekera, E. A. [VerfasserIn]; Campbell, D. S. [VerfasserIn] Erschienen: Chichester [u.a.]: Wiley, 1987 Umfang: XIII, 205 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0471914347 Schlagwörter: Semiconductors Reliability ; Semiconductors Failures ; Semiconductor devices. Failure ; Semiconductors++Defects Entstehung: Anmerkungen: Includes index
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 0989 00135 001 Barcode: 32520520 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bereitstellung voraussichtlich: 1 - 2 Tage nach Bestellung