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Medientyp: Buch Titel: SEM microcharacterization of semiconductors Beteiligte: Holt, David B. [Hrsg.]; Joy, D. C. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] Erschienen: London [u.a.]: Academic Pr., 1989 Erschienen in: Techniques of physics ; 1200 Umfang: XIII, 452 S.; : Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 0123538556 RVK-Notation: UH 6300 : Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines UP 7570 : Halbleiter-Schichten Schlagwörter: Halbleiter > Rasterelektronenmikroskop Entstehung: Anmerkungen: Literaturangaben Weitere Bestandsnachweise 0 : Techniques of physics