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Medientyp: Buch Titel: Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces Beteiligte: Sarid, Dror [Verfasser:in] Erschienen: New York, NY [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1994 Erschienen in: Oxford series on optical sciences ; 5 Ausgabe: Rev. ed. Umfang: XIII, 263 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Englisch ISBN: 019509204X RVK-Notation: UH 6310 : Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines Schlagwörter: Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Entstehung: Anmerkungen: Previous ed.: 1991. - Literaturverz. S. 233 - 259 Weitere Bestandsnachweise 0 : Oxford series on optical sciences
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: R2017 8 1374 Barcode: 30610270 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden Bestellungen, die von Mo - Fr bis 13 Uhr eingehen, werden voraussichtlich am selben Tag für Sie bereitgestellt.
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